开题报告--- 通用集成电路测试

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1、 毕业设计(论文)开题报告 所在学院：所在学院： 电子与信息工程学院 专专 业：业： 电子信息 设计设计( (论文论文) )题目：题目： 通用集成电路测试 指导教师：指导教师： 毕毕 业业 设设 计（论计（论 文）开文）开 题题 报报 告告 一结合毕业设计（论文）课题情况，根据所查阅的文献资料，每人撰写 2000 字左右的文献综述： 文文 献献 综综 述述 1.本课题的理论及意义 集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路的分类很多，主要 大的分类有数字集成电路和模拟集成电路等，按集成电路的分类，集成电路测试仪也可 以分为：数字集成电路测试仪和模拟集成电路测试仪。按功能分类：可

2、以分为集成电路 功能测试仪和集成电路参数测试仪；按形式分：便携式集成电路测试仪和台式集成电路 测试仪。功能测试：是对集成电路的功能进行判定，看是否功能失效。参数测试：是对 集成电路的各项参数进行测试，看测试读取的参数是否符合集成电路的设计要求。市场 上常见的便宜的集成电路测试仪大多是功能测试，由于参数测试仪的生产成本较高，一 般参数测试仪的价为都在几万，在实验里， 数字集成电路的测试是一件经常性的工作“ 实验做完后电路是好是坏从表面上是看不出来的如用简单办法给电路加直流电源用万 用表测试则是一非常麻烦的事， 因为一块电路有好多脚按照真值表一拍一拍的测试是一 件非常费时费力的事，在一般实验室条件

3、下数字电路只需进行功能测试即可，所以这里 要设计一个体积小，重量轻，携带使用方便的集成电路测试仪。 2.集成电路功能测试仪的发展 集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展 集成电路产业的三大支撑技术之一。因此，集成电路测试仪（或测试系统，下同）作为 一个测试门类受到很多国家的高度重视。40 年来，随着集成电路发展到第四代，集成电 路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电 路，到了八十年代，超大规模集成电路测试仪进入全盛时期。 集成电路测试仪的发展过程可以粗略地分为四个时代。 第一代始于 1965 年，测试对象是小规模集成电路，

4、可测管脚数达 16 只。用导线连 接、拨动开关、按钮插件、数字开关或二极管矩阵等方法，编制自动测试序列，仅仅测 量 IC 外部管脚的直流参数。 第二代始于 1969 年，此时计算机的发展已达到适用于控制测试仪的程度 ，测试对象扩展到中规模集成电路，可测管脚数 24 个，不但能测试 IC 的直流参数， 还可用低速图形测试 IC 的逻辑功能。这是一个飞跃。 第三代始于 1972 年，这时的测量对象扩展到大规模集成电路（LSI） ，可测管脚数 达 60 个，最突出的进步是把功能测试图形速率提高到 10MHz。从 1975 年开始，测试 对象为大规模、超大规模集成电路（LSI/VLSI） ，可测管脚剧增到 128 个，功能测试图 形速率提高到 20MHz。不但能有效地测量 CMOS 电路，也能有效地测量 TTL、ECL 电 路。此时作为独立发展的半导体自动测试设备，无论其软件、硬件都相当成熟。 1980 年测试仪进入第四代，测量对象为 VLSI，可测管脚数高达 256 个，功能测试 图形速率高达