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    毕业论文(集成运放参数测试仪)

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    毕业论文(集成运放参数测试仪)

    1、集成运放参数测试仪程序设计 内容摘要:该课题设计的运算放大器闭环参数测试系统是基于 MSC-51 单片机控制模块,并且 由 LCD(Liquid Crystal Display)显示模块,键盘模块,数据采集和转换模块,采用 DDS 芯片 (AD9851)实现了 40kHz4MHz 的扫频输出模块等五部分组成。采用辅助运放测试方法,可对 运放的输入失调电压、输入失调电流、交流差模开环电压增益和交流共模抑制比以及单位增益 带宽进行测量。在软件上,用 C 语言来编程实现。其要实现的功能包括:对来自 TLC2543A/D 转 换的数字信号进行接收、分析、计算和对结果的显示;通过不同键值的接收、分析来控

    2、制对不 同对象的测量,并在 LCD 上显示对应的人机界面;对来自 DDS 的高频信号源的频率进行控制来实 现对集成运放的带宽参数的测试和显示。而且具有自动量程转换、自动测量功能和良好的人机 交互性。 关键词:单片机 C 语言 DDS LCD 人机交互界面 The Instrument for testing the Parameters of Integrated Operation Amplifier program design Abstract:This system is designed based on C51 microcontroller to measure the clos

    3、e loop parameters of the operation amplifier. The system conclude five modules: LCD (liquid crystal display) display module, keyboard module, data collection module, conversion module, and the module of generating sweep sine-wave signal with frequency range from 40 kHz to 4 MHz, using the DDS chip o

    4、f AD9851. The system can measure the input offset voltage、the input offset current、the open loop AC differential mode voltage gain、the AC common mode rejection ratio and unit gain bandwidth,using the measure method of assistant amplifier. The data can be display on the LCD which is using of C progra

    5、m. And the function concludes: receiving, analysing and calculating the digital signals from TLC2543A/D then send them to show; accepting different key value on keyboards, analysing and processing it for controlling the measurement of different target and display on the LCD with different computer i

    6、nterface; controlling the bandwidth of HF signal source from DDS chip to measure the integrated transport bandwidth parameters and display the result. Whats more C51 microcontroller can control relays to complete auto measurement range switching ,auto measuring and good interface. Key Words:MCU CLanguage DDS LCD interface 目 录 前言 . 1 一、系统原理框图 . 1 二、硬件单元电路设计与实现 . 2 (一) ioc V 、 io I 、 vd A 、 cm r K 四个参数的测试电路 2 (二) 单位增益带宽测量电路 . 3 (三) 测试 vdCM R AK、 的信号源 3 (四) 峰峰值检测电路的设计 . 4 (五) A/D 采样电路 . 4


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