1、 本科创新性实践环节研究报告 题目： 射线散射比的测量 摘要 在 x 射线穿透物质的过程中， x 射线与物质相互作用产生相干散射和非相干散射。散射 x 射线和入射 x 射线具有相同的物质，都能对 x 射线胶片产生感光作用结果造成底片的灰雾度增大，图象模糊，影响射线照相底片的清晰度，使底片的灵敏度降低。本文通过实验揭示影响金属材料 x 射线散射比的因素，便于在 实际探伤过程采取有效措施，尽可能减小散射 x 射线对照相底片质量产生的。通过实验对铁材料经 x 射线透照时产生的散射 x 射线进行了测量，得出了管电压和散射比的关系曲线。最后提出了在实际探伤时散射 X 射线的防护措施。 目 录 1.射线检
2、测中散射线的来源 . 1 2.散射比 n 的测定方法 . 1 2.1 哈氏法 . 1 2.2 谬勒法 . 2 2.3 仙田法 . 3 3.实验测定散射比 . 3 3.1 实验准备 . 3 3.2 管电压与散射比的关系 . 3 4.结论分析与防护 . 5 4.1 结论分析 . 5 4.2 防护 . 5 5. 参考文献 . 5 6. 致谢 . 6 1. 射线检测中散射线的来源 射线入射到物体后，由于射线量子与物质发生相互作用，一部分被吸收，一部分被散 射，一部分沿直线穿透物体。因此，在透射射线中总包括下列成分： （ 1）一次射线 从射线源发出，沿直线穿透物体的透射射线。 （ 2）散射线 射线与物体相互作用中产生的次级射线，散射线的能量低于一次射线，方向一般都不同于一次射线，有时也称它为二次射线。（下图） 图 1 散射线产生示意图 2 散射比 n 的测定方法 2.1 哈氏法 如图 2 所示，也作两次曝光：（ a） 是窄束条件，（ b） 是宽束条件 8。 按窄束条件时，为使胶片上有可测面积，准直器（高原子序数材料）的光孔直径常取5mm。与两底片黑度 D1 、 D2 相应的照射量可从使用胶片的特性曲线上找到，因E1=It,E2=(I+IS)t，故由下式可求得 n: n = IS/I =10 lgE-1 =( E2/ E1)-1 = ( I+IS)t/ It 1 （ 1）
